il primo capitolo è dedicato alla descrizione del niobato di litio. Sono descritte la struttura del reticolo e le sue caratteristiche chimiche e fisiche, tra cui la ferroelettricità, le proprietà elettro-ottiche ed acustico-ottiche. Maggior rilievo è stato dato alle proprietà fotovoltaiche e fotorefrattive del niobato di litio, che sono il meccanismo alla base della registrazione di ologrammi.
nel secondo capitolo è descritta la propagazione guidata della luce e l'olografia. Vengono presentati i due approcci, geometrico e ondulatorio, per la descrizione dei modi discreti di propagazione della luce in una guida d'onda; sono poi descritti i metodi di ricostruzione del profilo d'indice di rifrazione di una guida a partire da misure degli indici efficaci per ciascun modo. Si descrivono in seguito l'olografia di volume, le sue maggiori applicazioni e i problemi legati alla registrazione olografica in niobato di litio.
nel terzo capitolo sono descritte le tecniche di realizzazione di guide di luce ed in particolare la diffusione di droganti. Vengono riportate ed analizzate le misure SIMS dei profili di concentrazione del ferro e del titanio, di cui si calcolano i coefficienti di diffusione.
nel quarto capitolo è presentata l'analisi delle caratterizzazioni ottiche e strutturali dai campioni che presentano modi di propagazione guidati. Sono ricostruiti i profili di rifrazione con i medodi Chiang e White-Heidrich, sono studiati i mismatch indotti dalla presenza dei droganti attraverso misure HRXRD. Si sono caratterizzati i layer superficiali analizzando gli spettri della spettroscopia infrared reflection e Raman. Infine dallo studio del danneggiamento fotorefrattivo si è stimata la sensibilità fotorefrattiva del niobato di litio drogato con ferro.
in appendice è infine riportata una descrizione della tecnica
Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS).
