Per la realizzazione della presente opera si è attinto profusamente, tra le altre, dalle seguenti fonti, citate in ordine sparso:
"La misura dell'attrito nella microscopia a scansione a forza", Marco Salerno, Tesi di laurea in Fisica, Pisa, novembre 1993.
"The Image Processing Handbook", John C. Russ, CRC Press Inc., 1992, Boca Raton Florida - USA.
"Micro-BIO, a Biology-oriented Atomic Force Microscopy - EC Demonstration Project", Marco Salerno, Polo Nazionale Bioelettronica, Parco Scientifico e Tecnologico dell'isola d'Elba, ottobre 1997.
"All you wanted to know about Electron Microscopy but didn't dare to ask!", una brochure di PEO - Philips, Electron Optics, Eindhoven, The Nederlands.
"Towards a Neural Network based AFM", articolo in pubblicazione su Probe Microscopy, inviato nel luglio 1998.
"Progressi delle Nanotecnologie", Pietro Morales, Bollettino Enea - Dipartimento Innovazione, aprile 1998.
"A practical guide to Scanning Probe Microscopy", un fascicolo illustrativo di Park Scientific Instruments, Sunnyvale CA - USA.
Il lavoro scaturitone è tuttavia originale in quanto a riorganizzazione complessiva e redazione dei testi, e costituisce pertanto proprietà esclusiva dell'autore e dell'editore.
Per approfondimenti personali da parte dei lettori vogliamo invece segnalare i seguenti testi, in maggior parte articoli tratti da riviste scientifiche internazionali, reperibili solo presso biblioteche universitarie di dipartimenti di Fisica e Chimica o Ingegneria.
Per l'aspetto relativo alla progettazione di uno strumento SPM:
Sang-il Park and Robert C. Barrett, "Design Considerations for an STM System", Methods of Experimental Physics, vol. 27; Scanning Tunneling Microscopy, Ch. 2, pp. 31-76.
Stahl, C.W. Yuan, A.L. de Lozanne, and M. Tortonese, "Atomic Force Microscope Using Piezoresistive Cantilevers and Combined with a Scanning Electron Microscope", Appl. Phys. Lett. 65, 1994, pp. 2878-2880.
Kuk and P.J. Silverman, "Scanning Tunneling Microscope Instrumentation", Rev. Sci. Instrum. 60 (2), February 1989, pp. 165-181.
William A. Ducker, Robert F. Cook, and David R. Clarke, "Force Measurement Using an AC Atomic Force Microscope", J. Appl. Phys. 67 (9), 1 May 1990, pp. 4045-4052.
Per l'espansione delle tecniche SPM tradizionali alla misura di proprietà particolari dei campioni tramite tecniche SPM avanzate:
Matey and J. Blanc, "Scanning Capacitance Microscopy", J. Appl. Phys. 57 (5), 1 March 1985, pp. 1437-1444.
Weisenhorn, P. Maivald, H.J. Butt, and P.K. Hansma, "Measuring Adhesion, Attraction, and Repulsion between Surfaces in Liquids with an Atomic-Force Microscope", Physical Review B, vol. 45, No. 19, 15 May 1992, pp. 11226-11232.
Radmacher, R.W. Tillmann, M. Fritz, H.E. Gaub, "From Molecules to Cells: Imaging Soft Samples with the Atomic Force Microscope" Science, vol. 257, Sept. 25, 1992, pp. 1900-1905.
Campbell, E.I. Cole Jr., B.A. Dodd, R.E. Anderson, "Magnetic Force Microscopy/Current Contrast Imaging: A New Technique for Internal Current Probing of ICs", Microelectronic Engineering 24, 1994, pp. 11-22.
Per articoli di rassegna (cioè riassuntivi, che fanno il punto della situazione su risultati consolidati) relativi alle tecniche SPM ed alle innovazioni da esse prodotte in generale:
Robert Pool, "The Children of the STM", Science, vol. 247, pp. 643-636.
John Markoff, "A Novel Microscope Probes the Ultra Small", New York Times, February 23, 1993, C1, C8.
Hansma, V.B. Elings, O. Marti, and C.E. Bracker, "Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy: Application to Biology and Technology", Science, vol. 242, 14 October 1988, pp. 209-216.
Andrew Pollack, "Atom by Atom, Scientists Build 'Invisible' Machines of the Future", The New York Times, 26 November 1991, B5, B7.
Per i teorici interessati alle interazioni sonda-campione:
Weisenhorn, P.K. Hansma, T.R. Albrecht and C.F. Quate, "Forces in Atomic Force Microscopy in Air and Water", Appl. Phys. Lett. 54 (26), 26 June 1989, pp. 2651-2653.
Jacob Kerssemakers, "Concepts of interactions in local probe microscopy", Ph.D. Thesis, Grö ningen, december 1997.
Sulla nanolavorazione:
Penner, "Nanometer-Scale Synthesis and Atomic Scale Modification With the Scanning Tunneling Microscope", Scanning Microsc., 7, 1993, p. 805.
Hsiao, R.M. Penner, and J. Kingsley, "Deposition of Metal Nanostructures onto Si(111) Surfaces by Field Evaporation in the Scanning Tunneling Microscope", Appl. Phys. Lett., 64, 1994, p. 1350.
Atherton, "Micropositioning Using Piezoelectric Translators", Photonics Spectra, Dec. 1987, pp. 51-45.