In copertina: una microleva AFM interagisce tramite la punta sulla sua estremità con un campione, fornendone un'immagine di topografia (quella superiore) ed anche un'immagine di attrito (quella inferiore). La figura è una "ricostruzione" della situazione, quindi si tratta di un disegno "artificiale", ma le due immagini, poste in assonometria, derivano da esperimenti reali, e mostrano un caso esemplare in cui due segnali di natura diversa, acquisiti sullo stesso campione, forniscono informazioni complementari estremamente utili nel loro complesso, garantendo una caratterizzazione estesa del materiale in analisi. Il campione in questione, un film di un superconduttore ad alta temperatura critica, mostra in fondo ad una buca una particella di contaminante ad alto attrito (adesione, probabilmente una "goccia" di vapore acqueo; le dimensioni laterali delle immagini sono di 600 nm).
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